二手 JEOL JSM 820 #9287783 待售

ID: 9287783
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM 820是一种扫描电子显微镜(SEM),提供高分辨率成像到纳米尺度的物体。它使用钨丝产生一束电子束,这些电子束被聚焦并定向到样品上,以便使用静电和电磁透镜进行检查。样品需要充满电荷才能被扫描,这是通过用二次电子束轰击来完成的。这会导致样品发射二次电子云,形成显微镜图像处理器上显示的图像。JSM 820具有快速的扫描速度,它可以产生高达其原始尺寸的100,000倍的放大倍数,这使得它甚至能够检测对象表面的最小细节。它的成像模式范围还允许用户检查一系列样品,从吸光表面到非导电表面。显微镜有一个自动化的阶段,提供精确的取样位置,并配有一个数码相机来捕捉标本的图像。JEOL JSM 820还能够从样品中收集数据,使其能够用于进行各种实验,包括元素分析。它配有能量色散X射线光谱仪(EDS),测量样品在受到电子束作用时发出的X射线能量。这使得显微镜可以推断出样品的元素组成。此外,JSM 820可以配置为自动断层扫描,使用户能够构建样本的三维图像。在求和上,JEOL JSM 820是一种强大的扫描电子显微镜,可以用来检查到纳米尺度的物体。它结合高分辨率成像和自动取样定位,是高端分析和实验的绝佳选择。由于其自动化的断层扫描能力,它也可以用于创建标本的三维重建。
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