二手 JEOL JSM 820 #9373249 待售

JEOL JSM 820是一种扫描电子显微镜（SEM），用于分析材料的形态、组成和晶体学。它在0.1-30 kV的电压和高达200 nA的标称探针电流下工作,提供高分辨率成像和元素识别。SEM利用现场发射枪（FEG）源进行热稳定,以确保稳定的成像性能,并在多次扫描中保持出色的分辨率。它也可以用于微观分析，可以配备一个X射线探测器、EDX（能量色散X射线分析）系统，以及多种探针来表征一系列材料。JSM 820具有较宽的工作距离范围，从4mm到30、40或60 mm，允许更宽的视野。成像室配有一个电动横越级，允许在12米步进电机的辅助下，将被调查样品水平和垂直地穿过标本窗μ移动。检查人员还可以利用功率迭代器功能,在扫描过程中可以调整显微镜设置,以获得准确的成像和结果。显微镜提供了几种冷却样品的方法，包括液氮、液氦、水射流冷却和共晶冷却，以防止成像过程中样品受损。JEOL JSM 820具有多种自动化功能,如半自动和全自动图像缝合、自动宏编程以及自动缝合和合成。图片设置和参数可以使用自动图像参数设置轻松调整,并保存到以后的成像会话中。此外,对于具有特殊SEM要求的用户,显微镜的软件支持多种操作模式,包括信息模式、低kV模式和单粒子分析（SPA）。JSM 820专为实用和研究目的而设计,提供精确的测量和精确的图像。凭借其耐用的构造和精准的性能，可以提供适合资源和能源相关研究的成果，以及材料科学和工程等其他科学领域。