二手 JEOL JSM 840A #293592718 待售

ID: 293592718
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM 840A是一种扫描电子显微镜("SEM"),专为科学和工业领域的广泛应用而设计。SEM能够用能量色散X射线光谱(EDS)系统产生纳米级物体的高分辨率图像,范围从微米到纳米。该仪器经过优化,可用于成像、分析和其他科学目的,如生物材料中结构的可视化,以及材料的特性和低和高Z材料的元素分析。JEOL JSM-840A具有LAN接口,并配备了专用的快速映像过程,可实现高达一百万像素的分辨率。它具有高达一百万倍的放大倍数,在原始扫描尺寸下超过64倍,允许对密集堆积的精细结构进行高分辨率成像。EDS系统能够直接分析低和高Z材料,范围从可见波长到X射线波长。SEM配备了独特的"耳语"透镜,保持物镜与标本之间的稳定路径,从而提供无像差的高对比度图像。JSM 840A配备了可变压力系统,允许在不同的大气条件下运行,以及在真空中成像。它还配备了参数化透镜,可以让用户独立控制电压和电流,进一步优化图像对比度。JSM-840A设计直观、用户友好,提供强大的软件,包括用户友好的图形用户界面(GUI),可简化仪器的操作和控制。SEM还配备了许多安全和安保功能,包括安全锁和防振动系统,确保用户和仪器的安全工作环境。总体而言,JEOL JSM 840A是一种功能强大、用户友好的扫描电子显微镜,非常适合对纳米级物体进行表征和成像。它可以产生具有出色对比度的高分辨率图像,并配备了多种特性,以简化操作和提高安全性。
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