二手 JEOL JSM 840A #293729703 待售

ID: 293729703
Scanning Electron Microscope (SEM) JXA 840A Electron Probe Microanalyzer included.
JEOL JXA 840A扫描电子显微镜(SEM)是一种最先进的仪器,用于对从几纳米到几百微米大小的样品进行成像。这种高性能设备是专门为故障分析、材料科学、生物研究等一系列分析应用而设计的。该840A利用由场发射枪组成的电光柱产生入射电子束,利用一系列带电静电透镜聚焦和成形光束,并利用角度校正器使入射光束倾斜最小化。柱耦合到一个大的形状和倾斜级,使得样品相对于入射电子束有角度和方向的运动。X射线探测系统允许从样品中提取更多信息。此SEM提供功能和性能的强大组合,使其成为各种映像应用程序的理想选择。集成的电子和软件相结合,为可变环境条件下的成像提供了一个倒视单元和可变压力操作。场发射枪产生精细聚焦的冷凝电子束,由带电透镜电极精细操纵。这与高对比度色彩控制器和电子放大图像信号相结合,提供高分辨率图像,并大大增强信噪比。X射线检测机捕获样品发出的广谱辐射,用于元素分析。光束监视器和可调光束参数提供了对电子曝光参数的完全控制,以获得最佳成像结果。该仪器有多种可选组件,可根据特定应用需求添加。这些部件包括低真空工具、数码相机、冷场发射枪、低背景模式、多腔室扫描、高对比度色彩控制器、低kV低剂量操作。JEOL JXA-840A也非常适合成像各种材料,从半导体和绝缘材料、金属和合金、复合材料到陶瓷、矿物和生物样品。可用于分析表面结构和元素组成,产生高质量的图像和光谱,甚至测量热、电性能等物理参数。JXA 840A的高性能使其成为故障分析、材料研究、取证和生物医学成像等应用的理想选择。此外,SEM还具有确保用户安全及其符合行业标准的功能。
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