二手 JEOL JSM 840A #293802277 待售

ID: 293802277
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM 840A是一种先进的扫描电子显微镜(SEM),用于详细分析各种标本的表面和结构。SEM扫描表面,使用二次电子、扫描反向散射电子和广泛的X射线光谱组合产生高分辨率图像。工作距离高达25mm,光束电流可以在10 nA到1的范围内,这种模型非常适合广泛的研究。该840A提供可变点扫描、高速采集、实时图像处理和集成沉积控制等高级成像功能。电子光学由具有出色稳定性和精度的冷场发射枪引导。能量色散光谱(EDS)探测器还允许用户从所研究的样品中获取元素信息。该840A恰如其分地命名为"高光源",利用特殊的EB偏置透镜,使电子能够更快地传播,从而产生更明亮的图像。而且,光学透镜的最大放大倍率高达600,000X,使研究人员甚至可以研究其标本表面最小的细节。JEOL JSM-840A还具有低加速度电压,可实现更精细的分辨率。这可以让使用者挑选出个别的离子格间距,以及其他精细的细节。此外,系统还包括一个数字接口,可以连接到打印机、视频设备、局域网、USB和PC。这种SEM非常适合各种应用,包括冶金研究、故障分析、生物和环境研究、半导体分析、材料测试等等。JSM 840A具有高分辨率的成像功能、先进的电子设备和可靠的性能,是任何需要先进而强大的系统进行深入分析的人的理想选择。
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