二手 JEOL JSM 840A #9039277 待售
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ID: 9039277
Scanning electron microscope (SEM)
Includes:
Morphological observation
Full element analysis capability
Observation of specimen to 10 nm or less
Specification:
Resolution:
Secondary electron image: 4nm-10nm (WD = 8mm-39mm, Acc. Volt = 35kV)
Backscattered electron image: 10mn (WD = 8mm, Acc. Volt = 35kV)
Magnification: 10X-300,000X
Image modes: Secondary electron image
Backscattered electron image
Electron channeling pattern
Emission pattern image
Specimen movement:
X= 15mm, Y=25mm, Z=31mm, Tilt: 90 degree
Rotation: 360 degree endless.
Specimen holders:
12.5 mm dia. x 10 mmH, 32 mm dia. x 20 mmH, 50 mm dia. x 10 mmH
Specimen exchange Airlock type, up to 32mm dia. specimen.
JEOL JSM 840A是由JEOL Ltd制造的精密扫描电子显微镜（SEM）.工程公司，电子显微镜的全球领导者。JEOL JSM-840A是一种具有大腔室设计的高分辨率低真空场发射扫描电子显微镜，允许在不同放大率和磁场大小下观测直径达130毫米的样品，而无需交换样品。JSM 840A设有环境工程室、顶级80毫米物镜和300万像素型反向散射电子探测器，以改善高分辨率成像。光学和探测器的设计具有最高的精确度,提供最精确的图像细节。此外,JSM-840A是专门为提供灵活性而设计的,具有广泛的操作参数和软件解决方桉。该设备进一步为材料科学成像提供能量和角度分辨率成像能力。随着柱内能量选择器的安装，JEOL JSM 840A具有精确检测X射线、电子、俄歇信号进行光谱分析的能力。这种独特的功能通常用于样品的元素、形态和化学分析。JEOL JSM-840A进一步配备了最先进的控制功能，使用户能够准确确定操作条件，并通过几次简单的击键返回到预定的一组条件。此外,系统的外部控制软件允许用户轻松远程控制多个仪器。最后，JSM 840A凭借其先进的冷却装置和溷合驱动机，提供了卓越的可重复性和稳定的操作和图像质量。特殊的导电陶瓷真空室进一步将刀具干扰降至最低，使分析和成像性能更加可靠。JSM-840A是研究和分析材料的宝贵工具，只是众多能够满足科学专业人员需求的JEOL产品之一。
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