二手 JEOL JSM 840A #9069106 待售

JEOL JSM 840A扫描电子显微镜（SEM）是一种通用工具,用于在平面图和侧视图方向上生成样品的高分辨率图像。显微镜利用电子源检测图像投射到荧光屏上的次级电子和反向散射电子。SEM提供尺寸为1 nm至1000 μ m的样品的高分辨率图像。SEM的主要成分是场发射电子源，它由发射电子的灯丝组成。然后发射的电子被高压、7kV或15kV加速，通过喷枪和孔径。一个正确调整的枪透镜和提取透镜系统给予电子所需的能量，并将它们聚焦到一个小点，1nm-1 μ m。电子束扫描系统由几个偏转器和3轴扫描仪线圈组成，用于产生预定的二维图样来扫描样品表面。电子束扫描系统在样品表面上以预先选择的光栅模式移动光束，二次电子（SE）和反向散射电子（BSE）由位于样品级两侧或舞台本身的探测器收集。电子随后通过一个电子放大器，将光束放大并进一步聚焦到目标（荧光屏）上进行处理和数字化。电子束通过一个像素单元，在该单元中，电子及其关联的能量产生了传递到目标的光束的投影。然后将目标上的图像数字化、保存并在监视器上查看,从而可以对样本的特征进行定量分析。除SEM成像外，JEOL JSM-840A还通过将能量色散光谱（EDS）与SEM组分相结合，提供元素分析能力。EDS模块是为元素映射而设计的，它可以提供基于能谱分析的元素组成信息和小范围的目标区域。JSM 840A是一种功能强大的仪器,能够产生高分辨率的图像,放大范围可达x 650,000。尽管这种显微镜比大多数显微镜更重，但它提供了更大、更通用的扫描功能。因此，它是学术和工业研究和影像应用的理想工具。