二手 JEOL JSM IC848A #9039276 待售
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ID: 9039276
Scanning electron microscope (SEM) with EDS, 6"
Includes:
Full element analysis capability
Large chamber design, 150 mm samples
Load lock
Full scanning in X and Y axis
Observation of 10 nm or less
Thermo Noran EDS detector (mounted)
No software or other hardware
Accelerating voltage:
0.2 to 40 kV (linked with bias, lens currents, and coil currents)
Magnification:
10x (at 39mm working distance) to 300,000x
100x (fixed)
Speciment movment rage:
X-direction: 160mm
Y-direction: 160mm
Z-direction: 38mm
Tilt : 0 to 60 degree
Specimen exchange:
By airlock: Up to 204mm dia. specimen holders
By stage drawout: Available
Speciment holder:
12.5mm dia. x 10mm H specimens (height adjustable)
102mm dia. x 0.5mm H specimens
153mm dia. x 1mm H specimens
204mm dia x 1mm H specimens.
JEOL JSM IC848A是一种高性能扫描电子显微镜（SEM），设计用于一系列分析和成像应用。具体而言，这种SEM提供了无与伦比的分辨率来调查生物和物理样品，并对其微观结构进行准确的分析。JEOL IC848A具有广泛的分析能力，能够对各种微观结构进行高度详细和准确的成像。这款强大高效的SEM配有高分辨率欧文Einzel透镜和先进的四极磁电子柱。这种技术的结合为样品的分析和成像提供了高精度。此外,该SEM所使用的扫描设备采用了精细的现场设计,使其能够在低放大倍率下捕获样品的最佳细节。此功能使JEOL IC848A扫描和成像应用的宝贵工具。此外，这台仪器还配备了电子光学柱和数字读出系统，能够以0.02微米的分辨率检测样品结构的任何变化。由于其高分辨率和先进的检测单元，JEOL IC848A可以精确测量包括金属、陶瓷、复合材料在内的各种材料的微观结构。在成像能力方面，JEOL IC848A具有电子照片倍增器相机和超高灵敏度检测器。这两个功能为各种样品类型提供了高质量和精确的成像结果。用户可以通过串联操作多个图像捕获系统来控制SEM的光学功能并节省时间。为提高性能，JEOL IC848A集成了最新的软X射线光刻技术，使用户能够以高度准确的方式了解材料的微观结构。此外,此SEM还使用集成的检测机器进行操作,该机器可以检测样品的表面细节并对任何给定的材料进行元素分析。总体而言,JSM IC848A是一种功能强大且先进的扫描电子显微镜,提供一系列分析和成像功能。它具有先进的特点和高分辨率成像，是准确表征和分析各种材料微观结构的宝贵工具。
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