二手 JEOL JSM IT100 #293594511 待售

JEOL JSM IT100
ID: 293594511
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM IT100是一种高分辨率扫描电子显微镜(SEM),允许从纳米到宏观的成像和分析。高放大倍率、成像分辨率、高灵敏度范围,使其成为包括半导体生产、材料科学、故障分析等多个领域研发的宝贵工具。电子源是一种超高压超亮枪,能够将电子加速到30kV,产生显微镜所知的高倍率和高分辨率。此外,由于具有纳米焦点特征,电子束的大小可以稳定在25nm以下。此外,解析X射线附件允许JEOL JSM-IT 100以数字成像板(DIP)检测器系统翻转至透射电子显微镜(TEM)模式,允许对样品进行元素和结构分析。JSM IT 100中的数码相机允许实时成像,可用于生成2D和3D图像。JEOL JSM IT 100的样品制备对于各种样品来说都是简单明了的,该室有一个大的样品室和各种各样的附件来处理不同的样品形状。其中一些配件包括真空附件、冷冻舞台、自动采样器和加热舞台。JSM-IT 100产生的结果可用于多种用途,尤其是用于各种材料的故障分析。显微镜的高分辨率成像和元素分析能力使研究人员能够识别组件的问题,并建立模拟来分析失败的原因。JSM IT100中包含的复杂软件允许对收集到的数据进行用户友好的分析和操作。它包括广泛的图像处理和数据分析功能,包括具有振幅的成像、相位成像、粒子分析和元素分析。这些都可以通过自动化托盘访问,从而轻松获得所需的结果。总体而言,JEOL JSM IT100具有高分辨率、灵敏度、多种配件和分析能力,是各领域研发的重要工具。其复杂的功能集为用户提供了充分利用SEM实验所需的多功能性。
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