二手 JEOL JSM IT700HR #293820093 待售
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ID: 293820093
优质的: 2024
Scanning Electron Microscope (SEM)
Energy Dispersive Spectroscopy (EDS)
2024 vintage.
JEOL JSM IT700HR是一种前沿扫描电子显微镜(SEM),体现了纳米技术领域内的先进成像能力和高分辨率分析。该IT700HR由领先的科学仪器供应商JEOL Ltd.设计,使研究人员、科学家和工程师能够以前所未有的精确度和清晰度深入研究复杂的纳米级结构世界。JSM IT700HR的核心特点是其超高分辨率成像性能,允许用户在原子层面上可视化样品。利用场发射电子源和精密的电子光学器件,这种SEM实现了亚纳米分辨率,提供了无与伦比的细节和精度,即使是样品表面上最小的特征也能成像。该IT700HR在1 kV时的最大分辨率为0.8 nm,是研究纳米结构、纳米颗粒和复杂表面形态的强大工具。JEOL JSM IT700HR除了具有出色的成像能力外,还提供了一整套分析功能,以精确和深入地表征样品。该系统配备了能量色散X射线光谱(EDS)和波长色散X射线光谱(WDS)探测器,使得能够对整个样品中的化学成分进行元素分析和制图。EDS和WDS的整合确保了对标本中存在的元素的精确量化,便于深入的材料表征和元素识别。此外,该IT700HR还具有电子反向散射衍射(EBSD)能力,能够通过取向映射和相位识别对样品进行晶体学分析。这种功能对于研究材料的微观结构和晶体学特性特别有价值,提供对晶界、相变和纳米级质地分析的见解。JSM IT700HR专为多功能性和效率而设计,具有用户友好的软件界面和直观的导航工具,可简化映像和分析工作流程。该系统支持范围广泛的样品类型,包括导电和非导电材料、生物样品和薄膜,适应各学科的各种研究应用。此外,IT700HR还提供高级成像模式,如二次电子成像(SEI)、反向散射电子成像(BEI)和低真空成像,增强了用户可选择的成像选项的灵活性和范围。这些模式使研究人员能够以增强的灵敏度和分辨率可视化表面地形、成分变化和材料对比。JEOL JSM IT700HR配备了最先进的电子光柱、精密级控制机构和先进的检测器,以确保在苛刻的研究环境中的最佳性能和可靠性。该系统经过精心设计,能够提供卓越的成像质量、分析精度和操作稳定性,使用户能够突破纳米级勘探和发现的界限。总之,JSM IT700HR代表了扫描电子显微镜领域技术成就的巅峰,为先进的纳米尺度表征和分析提供了无与伦比的成像能力、分析能力和用户友好的功能。该IT700HR具有开创性的分辨率、分析工具和直观的操作,是研究人员寻求精确和清晰地揭开纳米世界奥秘的首要工具。
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