二手 JEOL JWS 2000 #293621661 待售

JEOL JWS 2000
ID: 293621661
Wafer inspection system.
JEOL JWS 2000是一种扫描电子显微镜(SEM),设计用于高级成像和分析。它是一种成像工具,将现场发射SEM的威力与最新技术相结合,提供纳米级信息的高分辨率图像。这使得JWS 2000成为表征材料从表面到亚微米级特性的理想仪器。JEOL JWS 2000配备了用于精确成像的场发射源。此源提供高分辨率,再加上低加速电压和低噪声。最新的低噪声探测器进一步增强了高分辨率,即使是最小的特征也可以精确检测。JWS 2000还具有大工作室和宽电压范围,允许用户在不牺牲分辨率的情况下探测大样品。JEOL JWS 2000在一个平台上执行成像和分析应用。它配备了一系列先进的分析工具,包括能量色散X射线(EDX)光谱、反向散射电子(BSE)成像和阴极发光(CL)。EDX提供元素和化学成分信息,而BSE检测器和CL允许对样品表面和地下的材料特性进行成像。JWS 2000还提供了一系列成像指标,如对比度、长宽比和线宽。JEOL JWS 2000提供了一系列自动化功能,以提高易用性。它有一个用于精确放置光束的自动对准系统,一个用于快速处理多个样本的自动化样品更换器,以及用于精确的图像采集和分析的自动刀杆和倾斜控制。此外,JWS 2000还支持通过客户端/服务器和Web界面进行远程访问。这允许用户在世界任何地方操作SEM。JEOL JWS 2000是一种先进的扫描电子显微镜,设计用于提供纳米级材料和结构的高分辨率成像和分析。它的现场发射源、先进的探测器和宽电压范围允许精确成像,而其分析工具、自动化功能和远程访问的范围则提供了易用性和最大控制。JWS 2000是对材料和表面进行纳米尺度表征的理想仪器。
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