二手 JEOL JWS 7500 #9130302 待售

JEOL JWS 7500是一种高精度扫描电子显微镜（或SEM），能够观察和表征微观标本到单个原子水平的高度详细的图像。仪器利用低能量电子束快速扫描试样表面，并在极端细节上揭示复杂的三维特征。结果是标本表面的高度详细的三维地图，揭示了在光学显微镜下看不见的独特特征。JWS 7500具有广泛的成像和可探测选项,以满足各领域研究人员的需求。其中包括高分辨率成像和元素分析能力，使科学家能够确定样品的化学成分，以及纳米级成像和分析能力，使研究人员能够在单个原子的水平上进行高度精确的测量。该设备基于一个大的、高精度的Cs校正扫描电子柱，能够产生分辨率低至0.35 nm的高度详细的图像。该柱经过优化,可用于对尺寸从中等到非常大的样品进行成像和分析,并具有一系列先进的样品处理工具,包括开放式溅射涂层系统（SCS）,该系统可用于涂覆易碎样品以防止电子束损坏。JEOL JWS 7500还能够成像和分析碳和石墨烯片等高长宽比材料，以及进行一些扫描声学显微镜（SAM）实验来成像超薄硅等脆性材料。其他功能包括用于优化成像条件的检测器角度可调单元、先进的倾斜校正能力、偏转控制机以及许多其他功能。对于需要高性能SEM的研究人员和科学家来说，JWS 7500是一个极好的选择，用于成像和分析样品到单个原子的水平。该工具能够生成非常详细的样品表面3维图像，使研究人员能够精确地表征样品，即使在纳米级。此外,该资产还提供了一系列高级成像和分析选项,以满足不同领域用户的需求,使其成为用于研究和工业环境的宝贵且通用的工具。