二手 JEOL JWS 7500E #9223533 待售
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ID: 9223533
Scanning Electron Microscope (SEM)
Wafer stuck inside
Optics need to be replaced.
JEOL JWS 7500E是一种精密的扫描电子显微镜（SEM），旨在帮助研究人员观察和分析原子和纳米尺度的样品。显微镜使用扫描电子束来照亮和放大样品。利用数字成像和交互技术的结合，研究人员可以用显微镜获得详细的图像和3D表面效果图。JWS 7500E利用高功率40kV场发射电子枪（FEG）产生一束电子束，然后通过电磁透镜加速并聚焦成一个平面。然后通过样品扫描这种加速的电子束，使用称为次电子图像（SEI）的扫描模式形成图像。JEOL JWS 7500E还具有检测反射或二次电子的能力，可以产生具有更大深度信息的更高分辨率图像。显微镜还具有利用反向散射电子（BSE）成像的能力，使研究人员能够观察到对比度较高的样品。除了创建图像，JWS 7500E还配备了能量色散光谱（EDS）分析仪，用于检测样品的元素成分。这可以为研究人员提供有关样品组成的宝贵信息，使他们能够更准确地识别样品中存在的元素和化合物。JEOL JWS 7500E还与低温制备系统兼容，允许在-200 °C以下的温度下查看和分析样品。这使得研究人员能够观察到其真实状态的样品，消除因样品对环境变化作出反应而产生的任何变化。总体而言，JWS 7500E是一种非常强大的扫描电子显微镜，非常适合纳米成像和元素分析。其广泛的能力和与低温系统的兼容性使研究人员能够在原子水平上获得样品的详细和准确的图像。
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