二手 JEOL JWS 7500E #9224662 待售
网址复制成功！
单击可缩放
ID: 9224662
Wafer inspection Scanning Electron Microscope (SEM), parts machine
NORAN EDX included.
JEOL JWS 7500E是为高分辨率成像而优化的扫描电子显微镜（SEM）。它提供了多种选项来增强成像能力和提供可重现的精确测量。这台扫描电子显微镜配备了强大的形状校正物镜和自动化的舞台，以允许更高的精度和更高的对比度成像。JWS 7500E有一个集成的光束对准设备，有助于确保精确的光束放置。JEOL JWS 7500E提供了一个集成扫描系统,能够提供分辨率高达2nm的图像。该单元还有一个额外的场发射电子源，用于更高分辨率的成像。这台机器能够快速扫描电子探测，可以处理各种粒子，如有机化合物和非金属物体。JWS 7500E的另一个特点是可以提供对比度和深度感知的电子反向散射通道。JEOL JWS 7500E配备了操纵器，允许用户处理难以触及的样品，确保样品在分析过程中不受损。机械手可以容纳各种样本量和形状，包括旋转和倾斜能力。自动采样阶段还有助于为观察和测量提供一致和可重复的环境。JWS 7500E还提供了一个高级图像处理软件包,允许用户分析图像的不同参数。这个包装能够测量面积和体积，计算粒子，并根据颜色和纹理分割物体。软件包还具有3D重建功能,可以为工程师提供处理后图像的更多细节和清晰度。JEOL JWS 7500E的可选软件包还可以提供一系列集成的分析技术。这些技术包括能量色散X射线光谱（EDS）、X射线微分析和阴极发光（CL）。这些技术有助于提高成像分辨率，并为进一步分析提供有价值的化学信息。JWS 7500E是一个出色的扫描电子显微镜，提供卓越的图像质量和不可思议的耐用性。除了先进的成像功能外，它还提供一系列分析技术，帮助用户从他们的样本中获得更多有用的信息。JEOL JWS 7500E为材料研究、半导体和电子研究以及生物医学研究等多种应用提供了宝贵的工具。
还没有评论