二手 JEOL JWS 7505 #293594310 待售

ID: 293594310
Scanning Electron Microscope (SEM), parts system.
JEOL JWS 7505扫描电子显微镜(SEM)与其他SEM相比,分辨率为3.2纳米,性能水平高。它有一个先进的野战发射枪(FEG)与一个扩大的腔室,一个射束装置结构和一个柱内能量过滤器。这允许用户获得更高的放大倍率和更高的景深,从而为图像提供更高级别的细节。JEOL JWS-7505还提供了广泛的观测模式和能力,如扫描隧道显微镜(STM)以及原位操作和分析具有改进操作能力的标本。配备的检测器系统配置为提供更快的图像分辨率、提高的图像保真度和准确性、改进的3D成像以及现场采样操作,同时优化腔室环境。JWS 7505还具有快速的模式搜索和缝合功能,可实现更快的图像采集和更高分辨率的记录。JWS-7505的成像模式包括二次电子成像、反向散射电子成像和阴极发光成像。它还配备了多种用于成像的探测器,包括用于原位分析的闪烁体探测器,以及用于成分分析的能量色散光谱仪、电子反向散射衍射(EBSD)探测器和角度分辨能量滤波器。此外,JEOL JWS 7505具有自动观测和样品旋转的标本阶段。它还具有使用高速传输的数字图像提要,允许实时观察和分析。JEOL JWS-7505最适合在洁净室环境中运行,这意味着它可以在没有灰尘或其他污染物的条件下使用。JWS 7505为用户提供了一个可靠、易于使用的扫描电子显微镜平台。其高分辨率、高速成像和直观的用户界面使其成为各种研究应用的理想工具。其低成本的入门选项,加上出色的性能,使其成为扫描电子显微镜的绝佳选择。
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