二手 JEOL JWS 7505 #293749611 待售

JEOL JWS 7505
ID: 293749611
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JWS 7505是一种扫描电子显微镜,为形态学和纳米结构研究提供先进的成像和分析能力。它具有多模数据采集系统,在单个实验中提供高空间分辨率、高质量、高精度的结果。其高效率的成像光学器件在低能和高能成像中均提供出色的分辨率和低噪声检测。该仪器还提供了广泛的分析能力。其能量色散X射线光谱(EDS)系统允许元素映射和分析,而其能量损失近边缘X射线吸收光谱(ELNES)系统范围提供高分辨率深度剖面分析。此外,该仪器的场发射扫描电子显微镜(FESEM)技术提供高分辨率图像,而其柱内侧探测器技术和可变压力成像模式则提供进一步的高质量成像能力。JEOL JWS 7515旨在通过其多通道探测器为研究人员提供最先进的分析性能。此可拆卸平台允许在不同分析模式之间快速转换,并具有频繁的互换性,以确保高性能和可靠性。该仪器采用4轴电机驱动龙门,旨在为研究人员提供高精度的电动EDS和ELNES探测器。JEOL JWS 7515还设计用于方便维护,允许更快的部署时间、更低的维护成本和更方便的升级访问。其直观的软件提供用户友好的操作和快速的分析,具有快速模板为基础的样品加载和自动化的程序,快速样品到样品的替换。该系统还提供用于数据分析和图像处理的高级软件解决方桉,具有自动图像分析和图形数据分析功能。JEOL JWS 7515具有先进的成像和分析能力,是形态学和纳米结构研究的有力工具。它结合了高分辨率成像、高精度分析仪器和直观软件,使其成为寻求最佳结果的研究者的绝佳选择。
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