二手 JEOL JWS 7505 #52502 待售

JEOL JWS 7505是一种扫描电子显微镜（SEM），具有先进的成像和分析能力，用于标本的可视化和表征。它能够对各种样品类型进行高分辨率成像和精确测量，包括需要低真空和高真空条件的样品。这种光束成像和分析设备适用于广泛的应用，从简单的成像和分析到复杂的多维SEM研究。扫描电子显微镜（SEM）系统是建立在一个先进的65mm，2kV场发射枪。这种高分辨率的成像设备提供了出色的分辨率和对比度，使得即使是最小的特征，例如纳米级粒子，也能实现高度精确的成像和分析。该单元具有自动对焦控制功能，用户无需手动调整即可保持样品锋利。JEOL JWS-7505配备了多用途光电子光谱仪，可以使用高能技术对样品进行定量和定性分析，如XPS、UPS、AES、俄歇电子光谱学（AES）。这为研究人员提供了对标本组成和元素分布的详细分析，从而洞悉材料的结构、特性和可能的应用。除光谱仪外，该机还采用能量色散X射线（EDS）显微光谱仪进行元素分析。这允许在各种样品类型中快速和有针对性的X射线元素分析最大介质到高真空条件。该工具还包括一个高速、高对比度的探测器，可提供600万像素的静止图像，放大倍数可达20,000X倍。该探测器能够记录每秒30帧的实时视频，因此研究人员可以在快速移动的样本的整个上下文中分析动态过程。该仪器是完全自动化的，它的所有组件集成到一个单一的，易于使用的平台。它设计用于观察所有类型的样品，包括液体和气体。这使得它成为纳米技术、材料科学、半导体技术和生物医学研究的理想解决方桉。