二手 JEOL JWS 7505 #9000172 待售

JEOL JWS 7505是一种扫描电子显微镜（SEM），设计用于提供高分辨率成像和分析。它拥有一个加速电压高达30 kV的野外发射枪（FEG）源，工作距离大170 mm。此外，样品室还配备了4轴扫描仪和舞台倾斜控制器。探测器系统由后散射电子探测器（BSE）、X射线探测器（EDX）和二次电子探测器（SE）组成。BSE检测器的高分辨率为8 nm，活动面积为15 x 15 mm，角接受度为15度。EDX系统的频谱分辨率为300eV，最大加速电压为15 keV。SE检测器具有8 nm的高分辨率。JEOL JWS-7505能够在横向和垂直方向生成高对比度图像和3D曲面轮廓。SEM还具有自动对齐功能,可确保图像和测量的准确性。高分辨率成像能力和分析工具的独特结合，使JWS 7505成为材料科学和工程领域研究、开发和生产的理想工具。凭借其高分辨率的图像和放大能力，JWS-7505可以用来分析材料的结构和组成具有惊人的细节。也可用于研究材料的表面地形，包括粒子和微结构。JEOL JWS 7505的图像分析和量化功能能够对材料和表面进行详细的表征,从而更好地了解其特性。此外,JEOL JWS-7505还包括可选的EDS和EBSD系统,用于进一步的元素分析。综上所述，JWS 7505 SEM是一种功能强大、用途广泛的材料和结构高分辨率成像和分析工具。JWS-7505具有多种特性和功能,非常适合在许多不同的行业中进行研究、开发和生产。