二手 JEOL JWS 7505 #9131751 待售

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ID: 9131751
Transmission electron microscope.
JEOL JWS 7505是一种扫描电子显微镜(SEM),利用聚焦的电子束来创建样品表面或地下结构的高分辨率图像。7505配备了高分辨率的野外发射枪(FEG),降低预加速电压,增强二次发射以优化成像。此外,通过获取多个SEM图像切片,提高定量测量和难以成像的样本成像的准确性,7505可用于创建3 D重建。SEM还包含一个最先进的软件包,允许用户控制显微镜的所有功能,例如调整工作距离和聚焦冷凝器透镜,以及对自动功能进行编程。7505还支持图像采集和分析,包括快速图像采集和自动测量,以快速确定诸如加速电压和操作电流等参数,从而实现更精确的成像。7505配备了由3个线性轴(X、Y、Z)和2个旋转轴(倾斜和旋转)组成的5轴电动级。旋转轴可用于生成多参数成像(MPI)图像,倾斜轴可实现对入射角的精确控制。该级还为需要稳定温度的样品提供了主动温度控制系统。7505还配备了一系列成像探测器,可传递样品的高对比度图像。这些探测器检测反向散射电子、二次电子、反射电子及其合金以及反向散射信号。此外,探测器可以从样品中获取化学和物理信息,以提供更清晰的图像。7505还包含一个可选的组合检测器,可以同时提供二次电子和反向散射电子的检测。最后,7505还提供了一系列其他功能,例如用于高角度成像的60°倾斜和用于在可变压力环境中获取图像而不会造成失真的可变压力透镜。7505还提供了广阔的视野,允许更大的样品分析,其能量色散光谱(EDS)能力允许除了成像之外的元素分析。这种功能的结合使得JEOL JWS-7505一个强大的和多用途的成像和分析工具。
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