二手 JEOL JWS 7515 #136964 待售

JEOL JWS 7515扫描电子显微镜（SEM）是对多种材料进行高分辨率观测和分析的理想分析仪。该仪器利用场发射电子源扫描分辨率极高的样品，通常在150 nm以下，景深约为4.5µm。高性能透镜内二次电子检测器提供了尽可能高的二次电子图像，以及使用透镜内反向散射电子检测器进行粗糙表面地形和成分映射的选项。柱内BSE检测器还产生比STEM/BF检测器更高的信噪比图像，在表面细节收集方面无与伦比。此外,JEOL SEM还具有高精度、多位置的舞台,可自动比较样品的不同区域,而两个单独的窗口（一个用于样品,另一个用于视屏）使观察和控制图像变得更加容易。JEOL JWS-7515与许多选项兼容，包括带彩色摄像机的数字图像记录（DIC）、实时视频处理、数字线路扫描操作、3D分析和分辨率设置、EDS（能量色散X射线光谱）、阴极发光（CL）和EBIC（电子束感应电流）检测器。有了所有这些选项，JWS 7515用途广泛，能够成像各种材料，从半导体到冶金样品。JEOL SEM具有高度用户友好的界面，允许更快的样本交换和频谱收集，以及实时的数据采集和存储，更快的仪器远程控制和大量的出厂标准设置库，使仪器的操作更加容易。还有，微机控制仪器始终保持最佳性能，而JEOL SOFTWARE 2.0软件则允许用户根据需要保存和重用仪器设置、执行图像迭加以及修改视频设置。JWS-7515是一个功能强大的SEM，旨在满足先进的实验室分析需求。它提供出色的分辨率、严谨的性能和最先进的功能,使其能够提供各种材料的无与伦比的成像结果。