二手 JEOL JWS 7515 #293760157 待售

ID: 293760157
Wafer inspection system.
JEOL JWS 7515是一种扫描电子显微镜(SEM),非常适合观察和分析来自材料科学、物理科学和生物学的各种样品。显微镜使用电子枪产生一束穿过聚焦透镜并被定向到样品上的电子束。成像检测器然后捕获反射的电子,并创建一个可以观察单个粒子的样品图像。这样,SEM就可以得到样品表面的详细图像,包括其形态(形状)、元素组成甚至化学相。JEOL JWS-7515具有2至15 kV的低压SEM范围,可实现100,000 x的最大放大倍率。它配备了增加光束亮度的野外发射枪,允许在更高的放大倍率下进行观测。这种显微镜的图像分辨率非常出色,能够产生尺寸可达2 µm的亚纳米特征和特征的图像。JWS 7515的样板室设有4轴级,支援销条、幻灯片上的标本和培养皿等各种样本安装类型。倾斜阶段允许样品操作,使样品特性可以从不同角度观察。SEM有多种探测器,包括反向散射探测器、能量色散X射线光谱仪和二次电子探测器。这允许在SEM和X射线模式下成像,以及对样品进行深入分析。JWS-7515还包括聚焦和放大控制系统、视频显示器和真空系统控制面板等自动化功能。显微镜具有用户友好的控制界面,便于访问SEM的不同菜单功能。JEOL JWS 7515还提供先进的图像分析功能,包括边缘、线圈检测、亮度和对比度功能、粒度分析等。总之,JEOL JWS-7515是一种用于广泛应用的优秀扫描电子显微镜。它提供强大的放大和分辨率,先进的成像能力和广泛的分析功能。其用户友好的控制系统使得它成为任何实验室的绝佳选择。
还没有评论