二手 JEOL JWS 7515 #9174206 待售

JEOL JWS 7515扫描电子显微镜（SEM）是研究人员的先进工具。此SEM提供了多种功能,可以详细、准确地检查各种材料曲面。其独特的设计允许广泛的应用，从材料的检验到纳米管研究。JEOL JWS-7515拥有先进的用于高分辨率成像的野外发射枪（FEG）。其最大5kV加速电压可实现高放大倍率的高分辨率成像.该装置配有一个大的、主动稳定的腔室，可以移动直径达80毫米的样品。此外,SEM还具有强大的柱后能量滤波器（PCEF）,能够准确识别元件。JWS 7515除了具有高分辨率成像能力外，还具有多种用户友好的功能。它拥有方便用户的软件，具有自动收集和自动数据分析功能。此外,系统还使用FEG提供自动漂移校正,以提高图像稳定性和可重复性。JWS-7515具有强大的自动采样阶段，采样范围很广。它能够用其集成的可变压力电子枪成像非导电样品。此外，该设备还支持多个探测器，用于从多个角度收集数据。该设备还提供了一个带三列的高功率样品制备站，便于样品加载。JEOL JWS 7515还有一个独特的倾斜控制系统，允许可调倾斜角度。这一特性确保样品充分暴露于电子束，甚至从难以到达的样品中获取数据。最后，JEOL JWS-7515由于其先进的工程而极为可靠。它具有保护样品免受电子照射损害的特点。此外，SEM在电子滤波方面效率很高，从而实现了更可靠、更高质量的数据采集。综上所述，JWS 7515是一款功能强大的扫描电子显微镜，配备了广泛的功能和用户友好的软件。它能够以高分辨率进行高级成像，以及准确的元素识别。此外,SEM还提供自动化的样品准备和倾斜控制,以及数据分析和漂移校正。它是一个可靠、可靠的工具,非常适合需要详细成像和分析的研究人员和工程师。