二手 JEOL JWS 7515 #9220978 待售

JEOL JWS 7515
ID: 9220978
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JWS 7515扫描电子显微镜是一种高度先进的分析工具,设计用来测量结构和元素组成具有超强的分辨力。它利用由钨电子枪产生的电子束来获得微观物体的高度详细的图像。该仪器的高分辨率成像能力对包括材料分析、生物分子结构和化学成分在内的广泛研究都有价值。JEOL JWS-7515扫描电子显微镜具有高亮度、大视野和高放大倍率的独特组合。它的高能电子束源能够放大到3000倍,提供精确成像到纳米级。这台功能强大的显微镜还具有很大的动态视场范围,使得大面积的分析得以详细研究。此外,它还提供了广泛的高级分析能力,如能量色散X射线光谱、电子反向散射衍射、深度剖析和化学成像。JWS 7515扫描电子显微镜配备了自动对焦控制设备,确保了最佳成像条件。该系统将计算机控制的焦点调整与舞台驱动器控制器相结合,从而实现精确的样本扫描。此外,物镜和反向散射探测器系统相结合,优化了包括金属材料在内的各种样品的成像质量。JWS-7515扫描电子显微镜还具有集成的元素分析单元,可以对样品进行高精度的成分分析。此外,它还可用于分析样品中的污染水平和检测微妙表面缺陷的存在。最后,该机器还配备了多种软件工具,以方便图像分析和示例文档。总体而言,JEOL JWS 7515扫描电子显微镜是一种用途广泛、可靠、高效的仪器,非常适合广泛的研究应用。它令人印象深刻的分辨率和强大的分析能力为该领域的研究人员提供了无与伦比的性能。
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