二手 JEOL JWS 7515 #9249356 待售

JEOL JWS 7515
ID: 9249356
Scanning Electron Microscope (SEM), parts system.
JEOL JWS 7515是一种高性能扫描电子显微镜(SEM),能够对大样品进行精确成像。它具有先进的成像功能和高精度的分析能力,是各种成像应用的理想工具。JEOL JWS-7515配备了一个新的15纳米超低噪声性能探测器设备,以低噪声提供可靠的成像结果。这有助于减少SEM图像上变色的发生,并提供更快的图像捕获。它还具有一个5轴样本级,用于对大型样品进行最佳成像,并能够在成像过程中倾斜和旋转样品,以获得尽可能高的细节。JWS 7515还包括用于精确扫描结果的自动检测和聚焦功能。其用户友好的自动化样本环境控制(SEM-CON)系统使精确和可重现的方法能够轻松快速地得到开发。它还具有改进的光学单元,以提高样品稳定性和提高成像灵敏度。此外,JWS-7515还具有高级数据分析功能。利用其专用的应用软件,用户可以从获取的数据中分析元素组成、图像形态和晶粒大小。它还有一个粒子分析机,可以精确地分析单个粒子到纳米尺度。总体而言,JEOL JWS 7515为映像需求提供了一个通用且可靠的解决方桉。凭借其先进的探测器工具、提高准确性和可重复性的自动化能力以及强大的数据分析能力,它是一种理想的工具,能够为各种流程提供高级成像和精确分析。
还没有评论