二手 JEOL JWS 7515 #9256119 待售

JEOL JWS 7515
ID: 9256119
SEM Defect review system.
JEOL JWS 7515扫描电子显微镜是纳米尺度成像分析样品的有力工具。它在单个设备平台中结合了高分辨率成像和分析功能。该设备具有高达30 kV的加速电压,用于提高分辨率和敏感样品的低压检测能力。这种扫描电子显微镜配备了EDAX的EDS(能量色散X射线光谱)系统,可以进行优越的元素识别。探测器与JEOL SEM物理和数字耦合,提供操作员的灵活性和易视控制。JEOL JWS-7515扫描电子显微镜提供了一个高效和易于使用的界面,具有触摸屏和直观的控制功能。它提供了全方位的成像模式,包括SEI、SE2(二次电子)、BSE(反向散射电子)、BSED(反向散射电子衍射)、EDS(能量色散X射线光谱)、EBSD(电子反向散射衍射)、电能损失(电子显微镜)JWS 7515扫描电子显微镜是针对生物材料、聚合物、金属、合金、陶瓷、玻璃等多种材料而设计的。这个通用的SEM提供高分辨率成像以及定量元素分析与X射线探测器。可以在导电材料和非导电材料中快速准确地进行测量。JWS-7515扫描电子显微镜提供了一个高精度的定位单元,具有纳米级的可重复性,可以快速和准确的导航样品。高介电屏蔽有助于减少样品充电伪影,并允许施加最佳电压、束电流和发射。它还通过各种内置软件包提供高速数据采集和分析,使操作员能够快速准确地评估来自SEM的图像和数据。此外,该软件还提供了一系列用户友好的图像分析工具和专门的应用程序模块,如FEG-STEM Analyzer、Automation和CAD比较。JEOL JWS 7515扫描电子显微镜提供了可靠的成像和分析机,具有高精度和重复性。它是工业、研究和学术环境的可靠工具。此SEM是材料科学研究的强大工具,提供了广泛的成像功能。
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