二手 JEOL JWS 7515 #9298655 待售

ID: 9298655
Scanning Electron Microscope (SEM), 8" 1999 vintage.
JEOL JWS 7515扫描电子显微镜是一种用于先进科学和工业研究的高精度仪器。它具有亚纳米分辨率的能力,可以详细描述许多材料的纳米级结构。它配备了野外发射枪和数字PC控制器,提供可靠的性能和多功能性。JEOL JWS-7515专为最大的多功能性和用户友好性而设计,非常适合广泛的活动,如材料课程分析、损坏分析、故障分析、装配过程、金相等。其标准分辨率为0.5nm,允许纳米尺寸结构的高分辨率成像。该设备具有以下优点,如更大视野的非接触成像、标本观测的广泛灵活性、四维测量能力(X、Y、Z和Energy)以及出色的重复性。它还具有可选的附加软件工具,允许自动图像处理和量化。该装置配有JEOL EDS检测器,可提供优异的分辨率和快速的化学成分及分布分析。该设备还提供了广泛的成像模式,如二次电子、反向散射电子、阴极发光和镜内探测器。JWS 7515非常适合广泛的工业、研究和教育应用。它结合了出色的图像质量、准确性和分辨率,同时为用户的成像和分析需求提供了完全的灵活性。此外,该设备还具有用户友好的图形用户界面和各种有用的操作功能,使其易于广泛的操作员使用。
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