二手 JEOL JWS 7515 #9392789 待售

JEOL JWS 7515
ID: 9392789
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JWS 7515是一种扫描电子显微镜(SEM),具有优异的图像质量和分析能力。它提供高分辨率、低放大成像的表面特征到原子水平。7515配备了广泛的能量色散光谱(EDS)、波长色散光谱(WDS)、阴极发光(CL)和电子反向散射衍射(EBSD)分析技术。7515具有宽阔的标本室和容纳各种样本量和形状的能力。大腔室配合其自动化的样品处理,以允许有效的样品定位。它还允许以超微切开(UMT)、临界点干燥(CPD)和低真空(LV)STEM成像等多种模式进行操作。7515有一个列内能量过滤选项,允许用户为自己选择的应用选择最佳的分析特征。在轴上电子枪提供高达低电压降低结构损伤。电子束稳定性高,使得低压图像信噪比优越,降低了样品损坏的风险,并允许最大限度的样品保存。7515提供了出色的自动图像采集控制和易于自动操作的标本阶段.它包括用户友好的图形用户界面(GUI)软件,具有一系列针对EDS、WDS、CL和EBSD的分析和可视化功能。7515可以在多种降噪模式下运行,以最大程度地减少图像伪影,减少手动调整图像的需要。它的高分辨率和分析能力使JEOL JWS-7515许多科学和学术领域的审阅者的有力工具,它的多功能性使其适合各种研究需求。它稳定的电子枪和用户友好的软件使它成为新用户的一个简单选择。其先进的分析能力和自动化的标本处理系统使其成为高级用户的强大工具。
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