二手 JEOL JWS 7515 #9412229 待售

JEOL JWS 7515
ID: 9412229
晶圆大小: 8"
Scanning Electron Microscope (SEM), 8".
JEOL JWS 7515是一种扫描电子显微镜(SEM),结合了高分辨率和优秀的景深。其设计以经过验证的JEOL JMS系列SEM为基础,具有优于1.7mm的精细级样品平整度。JEOL JWS-7515通过使用冷场发射枪(FEG)和数字图像检测器最大限度地提高分辨率和图像对比度。它提供高速成像,实时帧速率高达每秒200帧。JWS 7515是一种中高真空SEM,意味着它在中等二次至高一次真空的压力范围内运行。在这种类型的环境中,电子可以很容易地传播,很少碰撞。这创造了一个具有良好景深的高分辨率图像,因为从FEG发出的电子通过物镜加速并朝着舞台上的样品。可以调整JWS-7515的物镜,在5倍至300 kx的放大倍数范围内获得清晰的图像。JEOL JWS 7515包括气体清除设备和自动级控制。这允许用户调整样本的位置并精确定位感兴趣的元素。即使在通过气体净化系统手动操作阶段,真空条件也可以维持。气体清除装置还防止污染物进入SEM的真空空间。JEOL JWS-7515具有几个增强SEM成像的功能。其中包括对比度和彩色数字成像、光束电流监视器(BCM)和自动背面成像(ABi)。对比度和彩色数字成像模式提高了低信号样本的清晰度和对比度,而BCM则有助于保持一致的成像条件。通过ABi,用户可以对样品背面的特征进行成像和测量,并分析两侧的形状和表面形态。JWS 7515由于其高分辨率和景深,是许多SEM应用的绝佳选择。它具有多种功能和实用程序,可提高成像质量和准确性。其气体净化机和自动级控制使得它非常适合苛刻的应用。凭借其高速帧速率,JWS-7515可以快速拍摄详细图像。
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