二手 JEOL JWS 7550 #137194 待售

JEOL JWS 7550是一种扫描电子显微镜（SEM），用于以纳米尺度可视化物体。它配备了3.2纳米分辨率的成像系统，提供各种样品类型的高分辨率图像。根据所观察样品的类型，它能够以低能或高能模式运行。可通过用户友好的软件界面访问该系统。这个直观的界面允许快速的示例操作和调整过程。该软件还可用于创建样本曲面的详细图像,以便进行精确分析。此外，还提供了一系列其他分析功能，如元素映射、线形扫描、X射线分析和电子反向散射成像。JWS 7550提供了一个易于使用的平台,用于快速分析需要复杂细节和分析的样品。在设计上，JEOL JWS 7550由一列、底座、枪组成。底座采用压铸铝制框架，表面经过阳极氧化处理，耐用，易于清洁。该柱由经过加工的铝合金制成,具有刚性设计,性能可靠。该枪组件由电子枪、电子源和供观察的样品底物组成。还安装了电容膜片，用于滤波和隔离电子束。JWS 7550被构造成无维护和自我性能测试，以确保每一个单元是最佳的表现。此外，还提供各种附件，以协助样品的制备和分析。多种多样的成像技术使得这种SEM成为各种研究需求的理想选择。JEOL JWS 7550是一个强大的成像工具，提供了对纳米级粒子结构和特性的宝贵洞察。它能够产生与其他SEM相当的分辨率,同时为用户提供直观的界面,这使得它成为各种研究应用程序中的绝佳选择。