二手 JEOL JWS 7555 #293791443 待售
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ID: 293791443
晶圆大小: 8"
优质的: 1998
Wafer inspection system
Display unit
Power distribution unit
(2) NORAN EDS Monitors
PC
Analyzer
Cables
Chiller
1998 vintage.
JEOL JWS 7555扫描电子显微镜（SEM）是一种高端多功能工具，旨在在各种研究和工业应用中达到高水平的性能。7555配备了能量色散X射线（EDX）微分析设备，使其能够识别和分析试样的元素组成，直至亚微米分辨率。SEM还具有可变压力和环境操作模式，使用户能够在各种环境中观察和分析生物、地质和其他材料。7555的高分辨率成像功能令人印象深刻,在15 keV的加速电压下,该设备的分辨率低于0.5 nm。它还提供了广阔的视野和较大的视野深度，以便可以观察和分析一个标本的多层。最大放大倍数为150,000倍，它提供了一个漂移校正系统，用于稳定成像。它还支持几种控制设备，包括数码相机、电子束显微镜和低真空室。强大的EDX单元允许7555从直径小至50 nm的样品中激发和检测X射线。它配备了能量滤波器，以提高X射线的质量，并有一个动态范围广泛的探测器，使它能够分析广泛的元素。它具有定性和定量分析能力，使其能够识别样本中的元素，并显示所述元素的相对浓度。7555也相当用户友好，具有直观的控件和功能丰富的图形用户界面。用户可以保存和调用图像、自动执行其过程以及执行屏幕操作。它还具有很好的集成安全功能，如内置联锁和实时状态信息。JWS 7555扫描电子显微镜具有独特的特点，是许多工业和研究应用的理想选择。
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