二手 JEOL JWS 7555 #9298946 待售

JEOL JWS 7555是一种高端扫描电子显微镜（SEM），设计用于对表面和结构进行高分辨率成像和分析。显微镜具有5纳米分辨率的点对点精度,使其能够对20纳米或更大的特征进行详细的图像。该柱针对低加速度和现场发射进行了优化，以确保最大性能和分辨率。JWS 7555配备了专门的高灵敏度超快电子探测器，可提高信噪比，使超小图像能够在极低电子照明水平下拍摄。该柱还具有可调节的工作电压，允许操作员在不改变SEM物理参数的情况下调整操作参数。显微镜具有先进的后处理管道，使用户能够分析和编辑其图像的结果，提高准确性，甚至允许进行3维图像和测量。此外,SEM还具有自动交互功能以加快数据采集任务,以及改进的用户友好界面。JEOL JWS 7555针对一系列应用进行了优化，包括常规故障和缺陷分析、电子、医疗设备工程以及各种纳米结构。它的高分辨率能力和可调电子束参数允许进行广泛的测量，包括表面和质量分析、元素映射、高分辨率成像和信号/噪声表征。因此,JWS 7555是详细故障分析、缺陷隔离和物理表征的理想工具。JEOL JWS 7555是任何需要先进可靠SEM的实验室或生产环境的完美补充。直观的用户界面和通用的应用程序使其成为快速准确分析任何曲面或结构的完美工具,并根据需要提供准确的结果。因此,可以快速、轻松地进行高效、准确的分析。