二手 JEOL JWS 7555S #293761147 待售
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ID: 293761147
晶圆大小: 8"
优质的: 2000
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM), 8"
2000 vintage.
JEOL JWS 7555S是一种高性能扫描电子显微镜（SEM），非常适合在材料科学、生命科学和半导体研究领域进行样品监控、缺陷检测和教育。该工具提供高分辨率成像，在二次电子中分辨率为0.2纳米，以及宽视场直径可达13mm。SEM除了具有典型的扫描和成像能力外，还作为强大的镜头内二次电子探测器发挥作用。其主要特点包括一个全面的样品制备室。JEOL JWS-7555S提出了大量的样品制备方法，如用氙气溅射、用碳涂层、热处理和真空水平的操纵。这些特性使得各种样品的制备成为可能。此外，它的分析设备提供了比传统光学显微镜更多的细节。分析系统包括能量色散光谱、阴极发光和永久性分析。JWS 7555 S也有自动化的舞台单元。这允许样本在其3轴闭环运动中进行非接触运动。舞台还配备了自动对焦功能，可以精细调整对焦，无需任何人工干预。自动平坦度检测机可最大程度地减少成像过程中图像的光学失真。该工具的稳定性非常出色。JEOL JWS 7555 S提供了一个无振动的声音幽灵控制，以尽量减少环境对数据的影响。这有助于最小化电子束位置的位移。此外，该工具还包括减少样品与电子束碰撞可能性的避免碰撞特征。总之，JWS 7555S是一种高性能扫描电子显微镜，提供卓越的分辨率和能力。其广泛的样品制备室和自动化的舞台资产提供了前所未有的细节和准确性，使其成为高层次研究的理想选择。
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