二手 JEOL JWS 8000Z #293621075 待售

ID: 293621075
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JWS 8000Z是一种高精度扫描电子显微镜(SEM),设计用于材料表面和地下结构的可靠、高性能成像和分析。它是一种双光束SEM/聚焦离子束(FIB)仪器,允许同时成像和纳米结构制造。该8000Z拥有超高分辨率冷场发射(CFEM)枪,可提供最大加速电位1.6千伏的高质量钨梁和近束电流噪声,实现优越的分辨率、景深、低充电操作。该8000Z配备了高对比度的反向散射检测器和镜头内二次电子检测器和传统的反向散射检测器,以超高灵敏度提供精确的组成和结构信息。它还有一个可变压力(VP)腔室来分析需要低加速电压的不敏感材料。该8000Z还具有样品自动化功能,能够使用多级电机控制级自动进行样品准备、成像和分析。该8000Z还拥有一个板载Everhart-Thornley分段探测器,允许用户以卓越的分辨率进行能量色散X射线(EDX)分析。自动WDS元素映射功能还允许对样品组成进行微观分析测量。该8000Z具有用户友好的图形用户界面,带有触摸屏监视器和高级软件,可实现强大、方便的操作和基于GIS的远程控制。所有设置都存储在内存中,以便在相同条件下启用可重复的结果和分析。总体而言,JEOL JWS-8000Z是一种先进的高分辨率静电扫描电子显微镜(SEM),具有超高分辨率的冷场发射枪、多功能探测器、样品自动化特性,以及车载Everhart-Thornley分段探测器。它提供卓越的成像质量和精确分析能力,为各行业的成像和分析应用提供可靠的性能。
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