二手 JEOL JXA 840 #9173746 待售
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ID: 9173746
Scanning electron microscope (SEM), parts system
Specification:
Resolution: 4 nm with a tungsten filament 3 nm with lab6
Cathode (SM-LBG40 option included)
Magnification: 10x to 300x
Gun type: Tungsten & lab6
Voltage: 0.2-40 kV
Secondary electron detector
Back scattered electron detector
Mechanical vacuum
Pump and dual diffusion pumps for chamber
Ion pump on gun chamber for lab6 filament
Specimen exchange: Airlock type (up to 32 mm dia.)
Stage type: (5) Axes
Eucentric goniometer stage
Manual controls
Specimen movement range:
X Axis: 0-10 mm
Y Axis: 0-25 mm
Z Axis: 8-39 mm
Working distance: 3-53 mm
Tilt: 0° to 90°
Rotation: 360°
Computer missing.
JEOL JXA 840是一种扫描电子显微镜（SEM），是高分辨率可视化材料的重要工具。该仪器能够观测结构和特征，分辨率可降至几纳米。这允许对金属、陶瓷、半导体和生物标本等多种材料进行详细研究。JXA 840利用电子束扫描样品,创建详细的图像。该仪器采用全自动、高精度的x-y扫描驱动器,可实现高速扫描,非常适合需要高吞吐量的应用。该仪器提供从0.05到30kV的可变加速电压，可以对各种样品类型进行成像和元素分析。除了常规成像外，仪器还提供从低千伏成像到低温条件的一系列专门成像能力。该仪器包括一个集成光学显微镜，允许对样品进行视觉和电子观察。此功能对于检查需要更大放大范围的样品特别有用。JEOL JXA 840包括一个能量色散光谱（EDS）选项，可用于分析样品组成。该仪器还配备了一个屏蔽良好、低振动、高灵敏度的EDS探测器，可防止电磁干扰，从而获得准确可靠的元素分析结果。仪器具有温度范围从10C到600C的大样本室，适合热分析等广泛的温度依赖性应用。此外，该仪器还配备了一种具有多种沉积金属的样品金属化器，可用于复制和保存各种样品表面的地形。总体而言,JXA 840是一款用途非常广泛的SEM,具有高精度和高分辨率,适合广泛的研究应用。它具有集成的成像和分析功能,是在纳米级表征、分析和成像材料的宝贵工具。
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