二手 KLA / TENCOR 8100XP #293817780 待售

KLA / TENCOR 8100XP
ID: 293817780
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM).
KLA/TENCOR 8100XP是一种扫描电子显微镜(SEM),常用于检查、测量、分析和检查低至纳米尺度的材料和器件。它通常涉及操纵从加热的灯丝发出的极薄的电子束,然后使用电磁透镜聚焦并成像到数字探测器上以捕获表面图像。KLA 8100XP是一种通用的SEM系统,它为用户提供了一系列用于纳米级表征和分析的功能。它的电子束能够生成具有显着清晰度和分辨率的图像,能够将特征可视化到0.7nm,从而使研究能够观察和研究材料和设备的表面。它还具有先进的检测能力,包括能量色散X射线光谱(EDS)、原子力显微镜(AFM)、电气表征模块(ECM)、自动检查和3D样品剖析。TENCOR 8100 XP也是高度可定制的,支持直径达6英寸的样品基板和10-300 kV的安全操作范围。它还包括一个功能强大的操作软件系统,允许用户直观地控制显微镜,分析和存储数据,以及管理高级图形用户界面(GUI)设计。在性能方面,8100 XP采用高速成像模式,可在令人印象深刻的4毫秒内扫描高达457mm2的区域。它还提供直观的自动导航控制和自动校准,以确保操作过程中的准确性和可靠性。而且由于其高度的精度和控制,8100XP能够执行可重复和可靠的缺陷检测、图像分析和其他专门任务。TENCOR 8100XP非常适合各种行业和研究应用,因为它能够提供可靠的微结构数据和高分辨率图像。它通常用于检测和分析半导体电路和组件中的缺陷,制造纳米结构材料,以及研究原子和纳米水平的材料。
还没有评论