二手 KLA / TENCOR 8100XP #9258655 待售

ID: 9258655
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM).
KLA/TENCOR 8100XP是一种结合了先进的光学和扫描电子显微镜能力以及分析软件应用的设备,以便对材料、设备和其他组件进行高分辨率成像和检查。它是一种先进的扫描电子显微镜(SEM),能够对尺寸小至10纳米的器件进行无损和无接触的检查。它提供了高达200kX的无与伦比的放大倍率,以及超高分辨率的大面积图像。KLA 8100XP由一个称为半导体成像显微镜(SIM)的主要单元组成。这个单元包括一个先进的用于成像的电子枪发射器,以及一个3-D检测器从多种电子类型中拾取信号。它还包括一个用于操作和测量设备的特殊阶段,以及一个数字图像处理系统。此单元的设计允许快速、准确地分析极小的特征,同时仍提供高分辨率图像。TENCOR 8100 XP使用透射电子显微镜(TEM)模式,设计用于以纳米分辨率检查表面。这允许用户更好地检测被检验样品的晶体取向、掺杂浓度和其他物理特性等特性。此外,8100 XP的3D成像机允许评估地形特征,如缺陷、晶粒大小和深度。此外,SEM还利用自动图像缝合技术,通过将多个图像组合到一个图像中,可以创建更大的图像。这使得精确评估大型样品的表面特性变得容易得多,因为将其成像为单个图像需要很长时间才能实用。TENCOR 8100XP还包括可选的附加软件应用程序,以提供自动计量功能,如特征识别、粒子计数和大小分析、线宽测量以及其他轮廓测量。这些应用程序旨在为用户节省时间和精力,因为它们可以快速分析更复杂组件的曲面。总体而言,KLA/TENCOR 8100 XP是为分析纳米材料和其他小型设备而设计的强大仪器。它提供高分辨率成像功能,可以检查和分析最小的特征。此外,它的可选软件应用程序还能够更快地自动分析曲面。
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