二手 KLA / TENCOR 8100XP #9286582 待售

KLA/TENCOR 8100XP扫描电子显微镜（SEM）是最新的最新型号，提供高分辨率的成像和精确的分析能力。这种扫描电子显微镜非常适合广泛的应用，从半导体故障分析和样品检查到使用X射线EDS的无损检测。KLA 8100XP是一种自动化半导体缺陷检测设备。该系统能够以高达0.5微米的分辨率捕获样品的高分辨率图像。它同时使用二次电子和瞬时X-Y扫描。此外，它还可以通过集成的能量色散光谱仪收集组成和地形数据。该单元的特点是改进了低kV应用的光学器件，为广泛的领域和应用提供了卓越的图像质量。在材料分析方面，TENCOR 8100 XP结合了反向散射电子和二次电子的组合，给出了元素组成的精确表示。KLA/TENCOR 8100 XP旨在提高质量控制过程的生产率,提供有关缺陷位置、组成、大小、形状和几何的信息。它提供了易于操作的界面,可快速捕获和分析缺陷,以确保产品研究和制造过程达到最高质量水平。TENCOR 8100XP易于操作。它配备了多种自动化功能,可快速收集数据并提供有意义的分析,而无需费时的手动调整。此外,还可以使用高级图像分析软件比较多个样本中的数据,以跟踪单个缺陷的演变和增长。对于基础材料分析，KLA 8100 XP可以产生元素线扫描和点分析。这台机器还可以通过自动漂移校正和自动化阶段进行更高级别的应用。8100XP与先进的过滤能力结合在一起，使其能够对暴露于辐射中特别敏感的样品具有高水平的扫描稳定性。集成真空工具的设计目的是提供一个清洁的环境，提供卓越的成像质量，不受样品污染或材料积聚在光学器件上。8100 XP与KLA系统的集成允许对组件和维修进行连续分析,从而可以长期优化生产效率。由于其先进的成像功能、改进的分辨率、自动化功能和用户友好的界面,此资产非常适合半导体故障分析。