二手 KLA / TENCOR 8100XP #9410217 待售

ID: 9410217
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM) APPLE MAC Computer.
KLA/TENCOR 8100XP是一种扫描电子显微镜(SEM),用于测量材料的表面形态、组成和电性能。它具有多种功能和有用的工具,使样本分析更加可靠、高效和可重复。KLA 8100XP能够在高真空条件下运行,非常适合表面分析、成像和测量电性能。SEM还配备了用于能量色散X射线光谱(EDS)的STEM检测器,用于鉴定样品中的元素成分。自动显微镜系统和倒置光学显微镜有助于最小化扫描时间并提高精度。TENCOR 8100 XP还拥有几项先进的成像和位置反馈技术,包括高定义单点导航的光学导航、自动对焦使样品聚焦与图像对齐,以及对透明薄膜材料进行成像的能力。8100 XP还具有用于更换样品的自动步进器和用于提高腔室稳定性的自动腔室压力调节。显微镜分辨率高达1nm,能够检测具有亚微米精度的特征。8100XP系列还提供了一个名为ProQuant II的可选软件包,它有助于测量表面地形、轮廓和电气参数。KLA 8100 XP SEM专为广泛的材料研究而设计,其先进的功能可以提供精确可靠的结果。凭借其卓越的成像能力,操作员可以比以往任何时候都更快速、更经济地对各种材料的表面特征和特性进行可靠和准确的测量。
还没有评论