二手 KLA / TENCOR 8100XPR #293605761 待售

KLA/TENCOR 8100XPR是一种桌面扫描电子显微镜（SEM），设计用于高分辨率成像和光谱应用。这种显微镜将电子束投射到样品表面，使其发射二次电子、X射线和反向散射电子。然后检测到这些发射的信号,并将其用于构建表面图像。该SEM能够产生分辨率高达1 nm的图像，适合分析纳米材料。KLA 8100XPR配备了高能一次电子枪，使用户能够使用广泛的标本材料。这把枪产生的光束高达1500V，可以调整到4 nm的显微镜点分辨率。该枪还提供了异常短的曝光时间和远光束电流。这允许用户以低漂移和极高放大倍率捕获图像。TENCOR 8100XP-R还配备了一系列探测器，包括二次电子探测器、反向散射电子探测器、X射线探测器和充电探测器。这些探测器使显微镜能够分析导电、绝缘和半导电材料的样品。X射线检测器对于分析样品的元素组成特别有用。KLA 8100XP-R还提供一系列自动成像功能,如自动污名和散光校正、自动图像捕获和缝合,以及自动模式识别以检测图像中的特征。显微镜还包括一个集成的ChromaJet软件包，可以用来分析和测量样品表面的颜色。8100XP-R是一个功能强大、用途广泛的SEM理想的材料分析和表征。它提供高分辨率成像、高显微镜点分辨率、自动化成像和特征检测，以及一系列用于分析样品元素组成的探测器。对于需要台式机SEM分析纳米材料的研究人员来说，这种功能的组合使得8100XPR成为一个极好的选择。