二手 LEO 430 #185415 待售

ID: 185415
Scanning electron microscope, (SEM) Resolution: 4 nm 5 axis computer controlled stage is mounted in a specimen chamber measuring 300 x 265 x 190 mm.
LEO 430扫描电子显微镜(SEM)是一种用于深入分析各种有机和无机材料微观结构的强大设备。它产生的高分辨率图像的放大倍率范围高达10,000倍,工作距离在0.5-10mm之间。430 SEM配备了everhart-thornley型探测器,提供了快速可靠的结果。它能够检测样本的地形、组成、视觉形态和样本大小。LEO 430 SEM的工作原理是二次电子图像检测。这一原理是基于对快速电子束穿过样品表面的薄而聚焦的光束进行扫描,进而导致二次电子从样品表面发射出来。然后用everhart-thornley型探测器检测这些二次电子,该探测器将产生非常详细的表面图像。430产生的图像分辨率明显高于其他显微镜手段获得的图像分辨率。LEO 430还配备了高真空系统,这是在非常高的放大倍率下操作所必需的。这个系统能够达到2 x 10e-7 Torr的压力。这样可以确保光束以最小的失真穿透样品表面,从而产生高分辨率图像。此外,真空系统还提供了一定程度的灰尘和颗粒保护,同时将所需的维护保持在最低限度。430装有真空涂层的单倾斜式样品支架,可提供样品的广角视图,以便观察样品表面的不同方面。由于SEM能够在最大60度的范围内倾斜样品支架,因此进一步增强了这一功能。样品支架还配备了X和Y样品翻译阶段,提供精确的定位能力,以详细捕捉样品表面上的各种特征。LEO 430为分析有机和无机材料的表面微观结构提供了强大而灵活的工具。其集成的组件和特性使其成为市场上研究微观结构和地形特征的最通用的SEM之一。
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