二手 LEO / ZEISS 1430VP #9259807 待售
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ID: 9259807
Variable Pressure Scanning Electron Microscope (VP-SEM)
Source type: Tungsten
Variable pressure
Turbo pump
Operating system: Windows XP
Does not include EDX
Detectors:
SE
Everhart-thornley secondary electron detector
Retractable 4Q BSE detector from KE
Power supply: 30 kV.
LEO/ZEISS 1430VP是一种扫描电子显微镜（SEM），专门设计用于对小的三维样品进行成像和分析。它在成像和分析测量方面都具有极高的分辨率。适用于低真空和高真空成像室中有机和无机材料的详细分析。LEO 1430VP的电子枪使用场发射枪，产生高能量分辨率的电子束。该枪还产生近光束散光，使其非常适合成像和小面积实验。该枪可以在低压模式下进行成像和观测，也可以在高压模式下进行分析，如能量色散X射线光谱（EDX）、波长色散X射线光谱（WDS）。蔡司1430VP还配备了原位/温度级的碳丝，可以观察和分析高温下的材料性能。1430VP提供多种成像模式，包括二次电子成像（SEI）、反向散射电子成像（BSE）和扫描透射电子显微镜（STEM）。反向散射的电子图像以倾斜角度或名义上垂直于样品平面收集。利用阶梯倾斜功能可以进一步优化SEI成像.使用高速采样阶段对样本进行光栅扫描,而实时成像使用户能够跟踪样本属性的变化。LEO/ZEISS 1430VP还配备了一系列用于元素分析的探测器，包括EDX、WDS和能量过滤透射电子显微镜（EFTEM）。EDX用于检测样品中的元素,其灵敏度从跟踪级别到多个质量%。WDS用于检测灵敏度为几ppm的光元素。EFTEM非常适合观察样品中存在的非常精细的结构或组成细节。通过使用一系列软件包可以扩展LEO 1430VP的分析能力。其中包括蔡司1430VP可视化工具、1430VP数据分析软件、LEO/ZEISS 1430VP图像分析和3D重建软件。所有这些软件包都是为优化SEM映像的数据收集、处理和分析而设计的。总体而言，LEO 1430VP是一种先进的高性能扫描电子显微镜，非常适合对三维样品进行成像和分析。其先进的光学、成像模式和分析检测器提供出色的分辨率，而其自动化软件包则优化了数据收集和处理以获得优异的效果。
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