二手 LEO / ZEISS 1440VP #9255473 待售

LEO/ZEISS 1440VP扫描电子显微镜（SEM）是一种用于原子级成像的尖端显微镜工具。其先进的能力通过低压电子束实现高分辨率成像。这使得它非常适合需要极高分辨率成像的敏感应用，例如微电子元件的故障分析。LEO 1440VP SEM有1kV和5kV两种,可实现2nm的最大分辨率图像。它还具有镜头内探测器设计，能够以低噪声进行高速成像。这种设计还提供了一个非常宽广的视野,能够以最小的失真对大型样品进行成像。此外，显微镜还配备了一个透射计，用于将电子束自动对准样品或反向散射探测器。ZEISS 1440VP Scanning Electron Microscope的其他功能还包括高速成像模式，允许用户以加速的方式查看和分析图像。此功能还可以捕获曝光时间非常短的多个图像,同时保持很高的分辨率。显微镜还支持广泛的探测器，使其能够捕获各种成像模式，如能量过滤成像和元素分布映射。1440VP扫描电子显微镜是一种强大的成像工具，能够产生高分辨率的图像具有超强的灵敏度。其广泛的特点使其适合于各种应用，如失效分析、元素分布映射以及细腻材料和元件的微观结构分析。这种先进而稳健的SEM使得分析复杂的微结构成为可能，是从事电子、材料科学、纳米技术等领域工作的科学家和工程师的绝佳选择。