二手 LEO / ZEISS 1450 #9161452 待售
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ID: 9161452
Scanning electron microscope (SEM)
Electron source: Tungsten
Resolution:
2.5nm at 30kV (LaB6)
3.5nm @30kV (W)
5.5nm @30kV (BSD-VP mode)
Includes:
EDS
EBSD
Magnification range: 9x to 900000x
Probe current
1pA to 1uA Optibeam controlled
Accelerating voltage: 200 V to 30kV
Variable pressure: 1Pa to 400Pa
Detectors: Everhart thornley with VPSE / VPSE or BSD
Chamber: 300 mm x 270 mm x 224 mm (H)
5-Axis motorized stage:
X-Travel: 100 mm
Y-Travel: 125 mm
Z-Travel: 60 mm (35 mm motorized)
Rotation: 360° continuous
Tilt: 0° to 90°
Image processor resolution: Up to 3072 x 2304
Image processing:
Pixel averaging
Continuous averaging
Frame integration
Oil diffusion pump main vacuum
Roughing pump
~1999 vintage.
LEO/ZEISS 1450扫描电子显微镜（SEM）是一种高分辨率成像工具，利用电子创建各种尺寸和材料样品的详细图像。LEO 1450 SEM通过产生聚焦电子束来运行，该电子束使用偏转系统在样品上扫描。通过控制光束的入射角，可以生成样品的三维图像。由于电子是特定于每个元素的，因此可以创建元素映射来显示样品中每个元素的浓度。ZEISS 1450 SEM配备了两个电子源，分别以高达10kV和30kV的能量运行。这样就可以对包括绝缘体和导电材料在内的各种材料进行成像。机器产生的图像分辨率也很高，达到高达0.5nm的横向分辨率和高达0.25nm的轴向分辨率。此外，1450 SEM配备了各种探测器，使其能够接收来自样品的信号。其中包括用于测量束电流的法拉第杯、用于检测样品低能X射线的闪烁计数器、用于绘制样品元素成分的能量色散光谱（EDS）检测器以及用于对样品表面地形进行成像的反向散射电子（BSE）检测器。LEO/ZEISS 1450 SEM还能够进行定量分析,包括测量晶粒尺寸、体积、孔隙度、薄膜厚度、表面积和表面纹理等参数。它还能够进行光谱分析，使得测量组成、光学常数、阻抗、介电常数和磁性等多种性质成为可能。总之，LEO 1450 SEM是一种强大的工具，用于分析和成像各种材料和尺寸的样品。它提供高分辨率图像、定量分析和光谱分析，使其成为研究和工业应用的宝贵工具。
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