二手 LEO / ZEISS 1455VP #9089413 待售
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ID: 9089413
Scanning electron microscope (SEM)
Parts system
Missing parts:
Computer
MVTitan Digital frame grabber and software
Currently de-installed.
LEO/ZEISS 1455VP扫描电子显微镜（SEM）是一种用途广泛、功能强大的数字成像工具,专为各种研究和工业应用而设计。LEO 1455VP提供卓越的分辨率和分析能力，使研究人员能够获得更高质量的图像，获得可靠的测量，并以更高的准确性和可靠性获得对亚微观世界的洞察力。该SEM具有标准的双透镜、双视图操作,能够在高真空和低真空模式下同时对试样表面和地下区域进行成像。其15KV加速电压使得高质量电子的传输能够以光学显微镜无法实现的放大尺度对样品表面进行高分辨率扫描。ZEISS 1455VP还有一个适合各种样品的大样本室，以及一个用于元素分析的集成EDS检测器。最先进的多通道探测器可用于进一步提高所获取图像的分辨率。1455VP具有直观的用户界面和大型触摸屏显示屏,可更好地控制参数和图像分析。此SEM具有用于自动样品扫描和定位的3轴级,允许精确的样品调整和运动。此外，LEO/ZEISS 1455VP具有专门的低压成像模式，用于对非导电样品进行成像而不产生充电效应。新的LEO 1455VP提供了针对各种应用程序设计的定制软件,如纳米级成像、缺陷分析、表面表征和计量、材料分析和故障分析。此SEM提供了广泛的附加功能,包括可调节试样角度的倾斜级、用于高对比度成像的薄膜插件,以及用于更大的样品捕获和放大图像的10：1还原透镜。此外，对于需要ESD（电子显微镜衍射）的应用，ZEISS 1455VP配备了集成的ESD系统和一整套附件。1455VP的一个独特特征是LEO M-View模式,它允许用户观察荧光、扫描和透射电子显微镜中的图像比较,从而创建全面的研究。总体而言,LEO/ZEISS 1455VP SEM是一种功能强大的工具,能够提供更高的分辨率、可靠性和准确性,并为用户提供扫描电子显微镜性能的极致。
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