二手 LEO / ZEISS 1530 #9244400 待售
看起来这件物品已经卖了。检查下面的类似产品或与我们联系,我们经验丰富的团队将为您找到它。
单击可缩放
已售出
ID: 9244400
优质的: 1999
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
Electron source: Schottky field emitter
Resolution:
1 nm @ 20kV (2 mm WD)
3 nm @ 1kV (2 mm WD)
Accelerating voltage: 200 V to 30 kV
Probe current: 4pA to 10nA
Magnification: 20x to 900,000x
E-T Secondary electron detector
High efficiency in-lens electron detector
ROBINSON BSD
IR Chamberscope
Eucentric 5-axis motorized stage:
X: 75 mm
Y: 75 mm
Z: 25 mm
Tilt: -15° to 90°
Rotate: 360°
Does not include EDX
No EDS
1999 vintage.
LEO/ZEISS 1530是一种先进的扫描电子显微镜(SEM),它利用电子的力量以前所未有的细节可视化和分析各种各样的材料和物体。LEO 1530由光学巨星LEO与着名的蔡司公司的工程学设计而成,具有对单个原子成像的灵敏度,以及揭示迄今不可见的微观结构的分辨率。ZEISS 1530的核心是3.5 nm场发射电子枪,能够产生规则电子束和可变形状束(VSB)以获得更高的分辨率。这款电子枪配备了静电透镜、磁性线圈、波导等一系列收集装置,用于将光束聚焦到只有几微米大小的点。这项功能使1530在对小型结构进行成像时具有非凡的细节和准确性。除了令人印象深刻的电子枪,LEO/ZEISS 1530还配备了广泛的分析和检测系统。其中包括用于分析样品组成和键合的先进能量滤波器、用于测量电子束感应充电的专用检测器以及用于二次电子成像的二次检测器。这套组件为高级材料表征开辟了令人兴奋的可能性。LEO 1530还利用创新的电子柱技术,对束的角度提供控制,减少电子散射。这提高了仪器的整体分辨率,使其能够对更小、更详细的特征(如表面地形)进行成像。外部分析可以用SEM的X射线和质谱系统进行。这些是测量样品化学成分的关键组成部分,蔡司1530配备了范围广泛的探测器,以实现精确的读数。该软件包采用直观且易于使用的图形用户界面,旨在利用1530令人印象深刻的图像和分析功能。这种直观的GUI允许用户设置和调整各种参数,以及利用自动工作流。总体而言,LEO/ZEISS 1530是一款出色的扫描电子显微镜,可为用户提供出色的成像和分析功能。LEO 1530拥有先进的电子枪以及一系列探测器和分析系统,在成像材料和物体时提供无与伦比的精度和分辨率。这使得它成为高分辨率至高无上的研究和工业应用的理想工具。
还没有评论