二手 LEO / ZEISS 1550 #293636318 待售
网址复制成功！
单击可缩放
ID: 293636318
Scanning Electron Microscope (SEM)
Detectors:
SE
QBSD
STEM
EDX
In-lens
Power supply:30 kV.
LEO/ZEISS 1550扫描电子显微镜（SEM）是一种多功能仪器，配备了先进的成像和分析技术。LEO 1550 SEM的电子柱装有肖特基电子枪、场发射枪（FEG）、钨合成尖端视图。它还包括一个高真空设备，在10-8 Pa的工作压力下保持电子束在超高真空下，这保证了最高的信号产率和最优的图像分辨率。ZEISS 1550 SEM的光学系统包括高分辨率扫描透射电子显微镜（S/TEM）、次级和反向散射电子检测器（BSD）、带电粒子检测器和X射线检测器。S/TEM模式提供了较大的景深，使其能够在较高的放大倍率下成像材料。除成像外，该单元还可用于通过能量色散X射线光谱（EDX）或波长色散X射线光谱（WDX）分析样品元素，提供定性和定量结果。1550 SEM允许用户执行各种各样的成像和分析任务。该机可用于高放大倍率、亚微米特征甚至纳米级分析的表面地形检测。它还提供了结构和界面的三维分析、纳米材料的3D数字断层扫描方法以及化学成分和图像对比的同时成像-使用户能够轻松识别样品中的不同元素并准确分析其分布。LEO/ZEISS 1550 SEM还提供了先进的硬件支持选项,包括大型工作室温度、可调节的台高成像、大型样品的自动成像、机动化和可编程的遍历,以及用于对大量相同碎片进行自动成像的大型样品加载功能。LEO 1550 SEM甚至包括工作流自动化功能和软件支持选项,允许用户使用高效直观的用户界面访问和管理大量数据。为确保最佳成像性能和准确性,SEM具有全自动特征识别（AFR）工具、成像效果检测资产和应力分析模型。总体而言,ZEISS 1550扫描电子显微镜提供了全面的成像和分析功能,可套用各种应用程序。这使其成为研发、质量控制、故障分析的理想设备。
还没有评论