二手 LEO / ZEISS 1560 #9272757 待售

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ID: 9272757
优质的: 1998
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM) Uniplinth upgraded Operating system: Windows 7 Does not include: EDX Evactron 1998 vintage.
LEO/ZEISS 1560扫描电子显微镜(SEM)是一种用途广泛、可靠的工具,用户可以观察和分析放大倍数高达250,000倍的样品。它是一种高性能、低电压的SEM,具有极好的景深和分辨率的轴上系统,是许多研究人员和技术人员的首选工具。LEO 1560 SEM以肖特基场发射枪为特色,提供了电子光学的现代解决方桉和改进的信噪比。它具有0.2到10 µm2的可变光斑大小,用于高分辨率成像和分析。该SEM还提供了一个Everhard-Thornley多段二次电子检测器,用于精确的元素分析。此外,ZEISS 1560还有一个用于溅射涂层的集成腔室,该枪可以装上2mm的反向散射探测器,使其能够执行各种成像和探测器模式。对于成像,1560 SEM可以使用各种技术来探索标本表面和特征。这些包括二次电子成像、相差成像、反向散射电子成像、手动和自动倾斜成像、柱头和暗场成像以及能量色散X射线映射。此外,此SEM的精度允许使用地形、线条轮廓、粒子分析和自动表面测量进行3 D成像。LEO/ZEISS 1560 SEM还为实验设计提供了更大的灵活性。它有一个数字操纵杆,允许在观察实时SEM图像的同时进行手动标本导航。此外,还可以添加一个可选的扫描阶段,允许在几种模式下自动扫描和记录。它还允许各种倾斜角度,使得它完美的横截面调查。最后,LEO 1560 SEM提供了一个用户友好的控制界面,具有多种操作特性和功能。它配备了Autofocus程序、具有多个参数的预设库、角度测量系统和自动恢复系统。这样可以确保SEM在操作过程中保持安全可靠。所有这些功能使ZEISS 1560 SEM成为获取详细而准确的图像和数据以满足一系列研究和工业需求的宝贵工具。
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