二手 LEO / ZEISS 435VP #293651569 待售

LEO / ZEISS 435VP
ID: 293651569
Scanning Electron Microscope (SEM).
LEO/ZEISS 435VP是一种功能强大的扫描电子显微镜(SEM),设计用于高级和分析性能。这款尖端仪器配备了广泛的特点,如高分辨率、场发射亚纳米电子源、反向散射电子探测器和二次电子探测器,以及高放大倍数双束设备。它非常适合具有挑战性样品的研究应用,如半导体晶片、薄膜和生物标本。LEO 435VP能够以极好的对比度提供高度详细的图像,使用户能够识别和可视化样品的微观和纳米尺度特征。它采用最先进的模块化设计,配有一系列易于互换的配件和探测器,让用户根据自己的具体需求定制自己的仪器。对于优越的样品保存,蔡司435VP还具有一个低真空室,这有助于保持低,稳定的压力同时避免强气流和防止氧化。这结合其先进的成像能力,使435VP成为分析研究的理想工具。除了成像性能外,LEO/ZEISS 435VP还配备了一套自动化软件工具,便于操作和分析。其中包括半自动图像优化系统(SAIOS)、实时图像采集单元(RTAIS)和双光束机自动驾驶仪(DBSA)。SAIOS允许用户快速调整多个参数,例如亮度和对比度,以最大限度地提高图像质量。RTAIS提供SEM参数的实时反馈,使用户可以对其成像工具进行即时调整。DBSA优化双光束成像参数,获得最佳整体性能。总体而言,LEO 435VP是一种先进且功能丰富的扫描电子显微镜,非常适合需要高质量成像性能和可定制检测选项的研究应用。其模块化设计、自动化软件工具以及专门的样品保存功能,使其成为一种强大可靠的科学仪器。
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