二手 LEO / ZEISS 435VP #9255854 待售

LEO/ZEISS 435VP扫描电子显微镜是一种高性能仪器，旨在提供卓越的成像能力和分析性能。它特别适合于纳米级结构分辨率的成像和分析。这种显微镜利用了一种场发射电子源，其设计目的是提供更好的电子亮度，更大的透射值和显着的柱寿命。因此，在高探针电流水平下，显微镜提供了高达10 nm的惊人分辨率。试样可以放在样品支架插件上，这样可以进行试样操作。分析过程中的定向由自动6轴电动级提供，通过高分辨率压电运动可以实现复杂的运动。舞台能够围绕垂直轴、角轴或法线方向定义的第三轴以线性或旋转的方式移动试样。系统的用户可以利用各种探测器来捕捉图像。发射的电子探测器可以捕获反向散射电子和二次电子中的图像，以实现与样品表面和体积的对比度。反向散射电子也可以用二次电子检测器观察。这些特性由STEM探测器补充，用于明暗场成像或两者结合。显微镜进一步配备了自动化数字成像系统和自动对准能力。这有助于使用包含的集成相机和创建蒙太奇胶片环路进行成像记录。该系统还具有高达500 Hz的可调扫描速度，为用户提供了模拟光学微观结构分辨率的选项。为了提供分析能力，显微镜利用能量色散X射线光谱仪进行元素分析，使用户能够识别样品上各种特征的化学成分或厚度。LEO 435VP扫描电子显微镜的高对比度成像和先进能力相结合，成为纳米级研究和分析的宝贵工具。