二手 LEO / ZEISS Supra 50VP #9361523 待售

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ID: 9361523
Scanning Electron Microscope (SEM).
LEO/ZEISS Supra 50VP扫描电子显微镜(SEM)是一种功能强大的成像工具,使用户能够研究各种微型标本的表面地形和组成。其能力包括表面、薄膜和纳米结构的高分辨率图像。SEM是一种空气敏感的电子显微镜,利用二次电子和/或用电子束照射时从样品发出的反向散射电子,创建20 nm分辨率的图像。电子的主要来源可以是加热的灯丝,也可以是场发射源。除了超高分辨率成像,SEM能够进行定性和定量的能量色散X射线光谱,可以化学元素组成的测试样品。LEO Supra 50VP SEM具有多种特性,包括全数字化自动聚焦设备、用于改进敏感样品成像的低电子束电压,以及用于大样品表面连续成像的高速探测器系统。其他特性包括电动采样级、基于激光脉冲的自动对准以及用于整个样本分析的自动数据采集。SEM的上游阶段,通常包括一个枪组件、真空单元和光束遮挡/遮蔽机,可以根据个别用户的需要量身定制。此外,临界反向散射检测器可以换出专门为不同类型成像设计的检测器,如扫描透射电子显微镜。ZEISS Supra 50VP是一种先进、用户友好的仪器,科学家和工程师多年来一直依赖它来详细了解各种表面的结构和组成。Supra 50VP具有高分辨率成像能力和能量色散X射线光谱,是研发微观和纳米结构的宝贵工具。
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